电子工程检测装置种类繁多,以下是一些常用的电子工程检测装置:
显微镜
光学显微镜:用于观察元器件的表面和内部结构,检查是否存在裂纹、变形、氧化等问题。
电子显微镜(SEM):提供高分辨率的元器件表面图像,并进行元素成分分析。
扫描电子显微镜(SEM)
用于观察元器件表面结构,确定表面是否存在缺陷、氧化等问题,并提供高分辨率图像及元素成分分析。
能谱仪
X射线能谱仪:用于分析元器件中的元素成分,确定是否存在元素不均匀、元素含量不足等问题。
电子能谱仪:同X射线能谱仪,用于元素成分分析。
电子探针
用于分析元器件中的元素成分,确定元素均匀性和含量,提供高分辨率图像及元素成分分析。
热分析仪
热重分析仪:用于分析元器件的热性能,确定其热稳定性。
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